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原子力顯微鏡

FM-Nanoview 6800AFM

***、主要功能特點

     硬件系統(tǒng)

1、光機電***體化設(shè)計，外形結(jié)構(gòu)簡單；

2、掃描探頭和樣品臺集成***體，抗干擾能力強；

3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡單，操作方便；

4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

5、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅(qū)動樣品垂直接近探針，實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；

6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域；

7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；

8、帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域；

9、采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能；

10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計，便于電路的持續(xù)改進與維護；

11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。

12、帶溫度、濕度顯示。

13、彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強

14、帶光學定位功能

    軟件系統(tǒng)

1、可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；

2、具備接觸、輕敲兩種模式,可選配（相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式）；

3、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；

4、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；

5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；

6、可進行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

7、可任意選擇樣品起始掃描角度；

8、激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能；

9、針尖共振峰自動和手動搜索功能；

10、可任意定義掃描圖像的色板功能；

11、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；

12、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；

13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

二、主要技術(shù)指標

1、工作模式：接觸、輕敲、可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力

2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

3、掃描范圍：橫向50um，縱向5um

4、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm

5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

6、掃描角度：任意

7、樣品移動范圍：0～50mm

8、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms

9、光學放大倍數(shù)：10X

10、光學分辨率：1um

11、圖像采樣點：256×256，512×512

12、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

13、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣

14、反饋方式：DSP數(shù)字反饋

15、反饋采樣速率：64.0KHz

16、計算機接口：USB2.0

17、運行環(huán)境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)

原子力顯微鏡

FM-Nanoview 1000AFM

***． 主要功能特點

硬件系統(tǒng)

1、主機與控制箱分開，外形結(jié)構(gòu)簡單；

2、掃描探頭和樣品臺集成***體，抗干擾能力強；

3、精密激光定位裝置，使用時無需調(diào)節(jié)光斑位置；

4、采用精密探針定位模塊，更換探針簡單方便；

5、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；

6、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅(qū)動樣品垂直接近探針，實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；

7、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域；

8、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；

9、帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域；

10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計，便于電路的持續(xù)改進與維護；

11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用；

12、彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強。

13、帶溫控、濕控功能

軟件系統(tǒng)

13、可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；

14、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；

15、可進行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；

16、可任意選擇樣品起始掃描角度；

17、激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能；

18、可任意定義掃描圖像的色板功能；

19、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；

20、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；

21、支持樣品圖片離線分析與處理功能。

二． 主要技術(shù)指標

22、工作模式：接觸、輕敲，可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力

23、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm

24、掃描范圍：橫向20um，縱向2um

25、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm

26、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz

27、掃描角度：任意

28、樣品移動范圍：0～20mm

29、馬達趨近脈沖寬度：10±2ms

30、光學放大倍數(shù)： 4X

31、光學分辨率：2.5um

32、圖像采樣點：256×256，512×512

33、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A

34、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣

35、反饋方式：DSP數(shù)字反饋

36、反饋采樣速率：64.0KHz

37、計算機接口：USB2.0

38、運行環(huán)境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)