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商品編號：21206

韓國科美K-MAC 薄膜測厚儀（涂層）ST4000-DLX

價格：詢價

產(chǎn) 地：韓國更新時間：2020-10-23 10:49

品牌：科美儀器型號：ST4000-DLX

狀態(tài)：正常點擊量：1517

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測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式

產(chǎn)品參數(shù)

1、尺寸：500 x 610 x 640 mm
2、重量：45Kg
3、類型：手動的
4、測量樣本大小：≤ 8", 12"
5、測量方法：無連接的
6、測量原理：反射計
7、活動范圍：200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
8、測量范圍：100?~ 35?(Depends on Film Type)
9、光斑尺寸：40?/20?, 4?(option)
10、測量速度：1~2 sec./site
11、應(yīng)用領(lǐng)域：All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED
12、選項：Programmable Auto Z Stage
13、焦點：Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
14、附帶照明：12v 100W Halogen Lamp

產(chǎn)品介紹

標準模式
工業(yè)規(guī)格
適合科研中心

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韓國科美K-MAC 薄膜測厚儀（涂層）ST4000-DLX

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產(chǎn)品特點

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