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TriStar II3020新***代全自動比表面積和孔隙度分析儀,可同時進行三個樣品的分析從而提高分析效率，提供全吸附、脫附曲線、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、de Boer t-plot數據處理微孔體積和表面積，厚度公式、αs-plot和f-ratio 法、MP法。
歧管和三個樣品分析站分別配有獨立的傳感器，可以同時精確的測量三個樣品，PO管同樣擁有獨立的壓力傳感器。
軟件配備自檢系統，方便用戶自行檢測儀器
選配的分子渦輪泵以及10mmHg可以將儀器升***到微孔單元。
 

1.比表面測量范圍為氮氣吸附0.01m2/g 至無上限，氪氣吸附0.0001m2/g 至無上限
2.孔徑分析范圍：3.5 埃～5000 埃，
3.測量5 點BET 比表面僅需20 分鐘。
4.重復性優于1％。
5.真正的三站同時測量。每個分析站均有獨立的高精度壓力傳感器。
6.新的軟件字幕，以太網口連接主機和電腦的通訊數據線，內置電子檢測點和強大的儀器自診斷功能.
7.可升級至微孔單元，選配的分子渦輪泵和10mmHg高精度壓力傳感器
8.多種樣品制備系統可選。
 

分析方法包括
全吸附、脫附曲線（吸附脫附曲線都做到1000 個測量點）
單點或多點BET 比表面積
Langmuir 比表面
平均孔尺寸和單點總孔體積
BJH 吸附/脫附曲線，中孔、大孔信息
（體積、面積分布）
Harkins Jura 厚度層公式
Halsey 厚度層公式
中孔和大孔體積、面積對孔徑分布
NLDFT 非定域密度函數理論
總孔體積?Validation reports
專為企業服務的SPC（Statistical Process Control 統計過程控制）報告。
Dollimore-Heal adsorption and desorption
Kruk-Jaroniec-Sayari correction
de Boer t-plot（數據處理微孔體積和表面積，厚度公式）
αs－plot ?f-ratio
MP 法，Harkins Jura 厚度層公式，Halsey 厚度層公式，
Kruk-Jaroniec-Sayari correction
STSA 碳黑外比表面
DFT 和比表面能分布( 密度函數理論)
summary report 總結報告