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電子顯微鏡(掃描電鏡、透射電鏡)
德國蔡司Zeiss結構分析用場發(fā)射掃描電子顯微鏡ULTRA
價 格：詢價
產 地：德國更新時間：2020-10-20 14:12
品 牌：蔡司型 號：ULTRA
狀 態(tài)：正常點擊量：1600
400-006-7520
聯系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
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ULTRA——***佳的成像工具
? 看得更多——超高分辨率的SE與BSE同步成像
? 看得更清——精確的***佳成像能力
? 看得更細——納米尺度上進行組分分析的利器
? 簡便易用——全面集成的鏡筒內置式背散射電子探測器（EsB）和二次電子探測器（In-lens detector）
? 遠離荷電——Ultra plus中安裝有荷電補償器，實現了不導電樣品的清晰、精確成像
產品參數
分辨率 | 1.0 nm @ 15 kV 1.7 nm @ 1 kV 4.0 nm @ 0.1 kV |
加速電壓 | 0.1 - 30 kV |
探測電流 | 4 pA - 20 nA |
放大倍數 | 12 - 900,000x |
電子槍 | 熱場發(fā)射 |
標準探測器 | 鏡筒內置式In-Lens二次電子探測器和EsB探測器，樣品室內AsB探測器和ET探測器 |
圖象處理 | 7種積分和平均模式 |
系統(tǒng)控制 | 基于Windows? XP的SmartSEM? |
產品介紹
在SUPRA?場發(fā)射掃描電子顯微鏡基礎上發(fā)展起來的ULTRA 場發(fā)射掃描電子顯微鏡是用于納米結構分析的電子束成像儀器中的佼佼者，它接收效率高、可以超高分辨率成像。***新開發(fā)的能量選擇式背散射電子探測器（EsB）和角度選擇式背散射電子探測器（AsB）則代表了***的GEMINI?技術的***新發(fā)展。
ULTRA綜合采用了用于形貌成像的GEMINI? In-len二次電子探測器、用于清晰的組分襯度的EsB探測器和用于采集晶體通道信息的AsB探測器。同步的實時成像與信號混合功能提供了***佳的成像能力。
EsB探測器包含有***個過濾柵網，通過它可實現高分辨率背散射電子成像，讓以前無法看見的細節(jié)歷歷在目。
卡爾.蔡司獨特的荷電補償功能在使用所有探測器時，都可以分析非導電樣品
? 低加速電壓時的超高分辨率二次電子和背散射電子成像
? 用于在納米尺度上實現組分襯度成像的高效EsB / AsB探測器
? 精確控制的超大自動優(yōu)中心（eucentric）樣品臺
? 背散射電子和二次電子信號的實時成像與混合功能
? 抑制不導電樣品的荷電效應
? 用于X射線分析和背散射電子衍射（EBSD）應用的超穩(wěn)定束流模式
滬公網安備31011502016460號
